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雙折射測量儀PA-300-L
雙折射測量儀PA-300-L是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應(yīng)力測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達(dá)0-130nm，可以測量的樣品范圍從幾個毫米到近500毫米。
雙折射測量儀PA-300-L是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應(yīng)力測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達(dá)0-130nm，可以測量的樣品范圍從幾個毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量儀以其技術(shù)的光子晶體偏光陣列片，雙折射算法設(shè)計制造，得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力，使其成為業(yè)內(nèi)，特別是工業(yè)界雙折射測量/應(yīng)力測量的選擇。
雙折射測量儀PA-300-L主要特點：
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操作簡單，測量速度可以快到3秒。
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視野范圍內(nèi)可一次測量，測量范圍廣。
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更直觀的全面讀取數(shù)據(jù)，無遺漏數(shù)據(jù)點。
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具有多種分析功能和測量結(jié)果的比較。
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維護(hù)簡單，不含旋轉(zhuǎn)光學(xué)濾片的機(jī)構(gòu)。
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高達(dá)2056x2464像素的偏振相機(jī)。
雙折射測量儀PA-300-L應(yīng)用領(lǐng)域：
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光學(xué)鏡片
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智能手機(jī)玻璃基板
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藍(lán)寶石、硅晶圓
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人工晶體等等
技術(shù)參數(shù)：
| 項次 | 項目 | 具體參數(shù) |
| 1 | 輸出項目 | 相位差【nm】，軸方向【°】，相位差與應(yīng)力換算（選配）【MPa】 |
| 2 | 測量波長 | 520nm |
| 3 | 雙折射測量范圍 | 0-130nm |
| 4 | 測量最小分辨率 | 0.001nm |
| 5 | 測量重復(fù)精度 | <1nm |
| 6 | 視野尺寸 | 40x48mm到240x320mm（標(biāo)準(zhǔn)） |
| 7 | 選配鏡頭視野 | 不適用 |
| 8 | 選配功能 | 實時解析軟件，鏡片解析軟件，數(shù)據(jù)處理軟件，實現(xiàn)外部控制 |
測量案例：
